AFM针尖
校准标准
AFM资料
分销商Multi75E-G
又名 ElectriMulti75-G
铂镀层的力调制AFM针尖
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(50单价)
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AFM针尖特征:
AFM针尖
形状
旋转
高度
17 µm
(15 - 19 µm)*
(15 - 19 µm)*
挫折
15 µm
(10 - 20 µm)*
(10 - 20 µm)*
半径
<
25 nm
半锥角
沿悬臂轴20°-25°，侧面25°-30°，顶点10°
AFM悬臂
A悬臂
光束
3 N/m
(1 - 7 N/m)*
75 kHz
(60 - 90 kHz)*
225 µm
(215 - 235 µm)*
28 µm
(23 - 33 µm)*
3 µm
(2 - 4 µm)*
* 典型范围
涂层
悬臂两侧的5 nm铬和25 nm铂的导电涂层。该涂层还增强了悬臂的激光反射率。
对准槽
该产品在支架芯片背面具有对准凹槽。
附加信息
用于力调制和脉冲力调制模式（PFM）以及电模式的单片硅AFM探针，例如：
- 扫描电容显微镜（SCM）
- 静电力调制显微镜（EFM）
- 开尔文探针力调制显微镜（KFM）
旋转的AFM针尖可以更对称地表示高样品特征。 一致的AFM针尖半径可确保良好的分辨率和重复性。
AFM固定器芯片符合行业标准尺寸，因此适合大多数商用AFM系统。
始终如一的高质量低价！
