TipCheck

快速便捷评估AFM针尖的样品


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Mounted on 12mm round metal plate
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产品信息

问题:

钝头或断头会严重影响表面粗糙度或结构尺寸等测量结果!为了确保正确的结果,必须定期丢弃使用过的针尖或由SEM对其进行检查,这两种方法都非常不经济或耗时。

解决方案:

TipCheck是一个SPM样本,可用于快速方便地确定AFM针尖条件。它提供了一种快速简便的方法,可以根据针尖的形状和清晰度对不同的AFM针尖进行比较和分类。

在无需扫描整个图像或进行SEM检查的情况下,检查针尖是否仍然良好,开始显示磨损或已经钝化!

此外,此示例可与市场上提供的自动针尖鉴定和针尖表征软件完美配合。

这三个图显示了用于对 TipCheck 样本成像的不同探针之间的比较。

TipCheck样品包括一层非常耐磨的薄膜涂层,该涂层沉积在硅芯片上。这种薄膜涂层显示出颗粒状,针尖的纳米结构,非常适合对AFM针尖顶点进行反向成像。

TipCheck的芯片尺寸为5x5mm。它既可以安装在12mm的金属光盘上,也可以不安装(TipCheck-UM)。

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